#PAGE_PARAMS# #ADS_HEAD_SCRIPTS# #MICRODATA#

AFM vyšetření dentinového povrchu(Naše zkušenosti)


Authors: Z. Zapletalová 1;  R. Kubínek 2;  M. Vůjtek 2
Authors‘ workplace: I. stomatologická klinika LF UP a FN Olomouc, přednostka doc. MUDr. J. Stejskalová, CSc. 2Katedra experimentální fyziky PřF UP, Olomouc, vedoucí katedry doc. RNDr. R. Kubínek, CSc. 1
Published in: Česká stomatologie / Praktické zubní lékařství, ročník , 2004, 5, s. 180-185
Category:

Overview

Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopieskenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena namapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrnýtopografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemiepovrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňujesledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktůzpůsobených dehydratací.Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které jepoužíváno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy).V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovanýchtřetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.

Klíčová slova:
Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer

Full text is not available online.
If interested in a scan of this journal, contact NTO ČLS JEP.

Labels
Maxillofacial surgery Orthodontics Dental medicine
Topics Journals
Login
Forgotten password

Enter the email address that you registered with. We will send you instructions on how to set a new password.

Login

Don‘t have an account?  Create new account

#ADS_BOTTOM_SCRIPTS#