AFM vyšetření dentinového povrchu(Naše zkušenosti)

Overview

Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopieskenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena namapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrnýtopografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemiepovrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňujesledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktůzpůsobených dehydratací.Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které jepoužíváno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy).V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovanýchtřetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.

Klíčová slova:
Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer