Authors: M. Vambera; E. Gojišová; P. Bradna Authors‘ workplace: Výzkumný ústav stomatologický, Praha ; Stomatologická klinika 3. LF UK a FNKV, Praha Published in: Česká stomatologie / Praktické zubní lékařství, ročník 107, 2007, 2, s. 36-38
Cílem studie bylo porovnat spolehlivost adhezivních systémů V. a VI.generace pomocí metody termocyklingu podle metodiky ISO/TS 11405 : 2003 (E). K porovnání byly vybrány dva zástupci z každé skupiny – z V. generace materiály Single Bond Adper a Prime&Bond NT a z VI. generace materiály Prompt – L Pop Adper a Xeno III. Materiály V. generace byly kombinovány s doporučenými leptacími gely a u všech adheziv bylo postupováno striktně podle návodu na použití. Adhezivní systémy byly kombinovány s materiálem Spectrum TPH. Každý adhezivní systém byl testován na souboru 10 intaktních třetích molárů. Výsledky ukázaly značný rozptyl mezi spolehlivostí jednotlivých adheziv bez závislosti na příslušnosti k jednotlivým generacím, tj.self-etch, nebo konvenční total-etch. Při měření mikroštěrbiny za pomocí kvantifikace dle ISO/TS 11405 : 2003 (E) se nejspolehlivěji osvědčil Prime&Bond NT, který měl skóre jen 12, poté Xeno III se skóre 26. Mezi spolehlivostí Single Bond Adper (skóre 37) a Prompt L-Pop Adper (skóre 38) nebyl signifikantní rozdíl. Výsledky prokázaly, že mezi jednotlivými generacemi dentálních adhezivních systémů není signifikantní rozdíl a závisí na kvalitě jednotlivých preparátů, ať už spadají mezi samoleptací nebo konvenční total-etch generace.
Klíčová slova: adhezivní systémy – termocykling
Don‘t have an account? Create new account
Enter the email address that you registered with. We will send you instructions on how to set a new password.
